荧光滤光片产品一般是采用蒸发镀膜制成的，滤光片的膜层会产生柱状结果，因此膜层容易受到外界的环境的影响而产生变换。
波长漂移还受到吸附潮气而影响，薄膜的折射率随吸附潮气而变化，水汽进入膜内后，膜层的平均折射率提高，膜层的光学厚度增加，导致光学曲线向长波移动，发生波长漂移，窄带滤光片和截止滤光片的吸潮波长漂移现象尤为明显。
荧光滤光片质量好坏，直接影响仪器的灵敏度高低，而滤光片的质量又是以其波长精度及其峰值指标来衡量的，因此滤光片波长精度及峰值是衡量光学仪器的重要参数之一，这在厂家的仪器说明书中虽未曾提及，但在仪器的实际使用过程中，我们发现对波长精度和峰值进行检查是重要的也是必要的，通过检查可以发现滤光片的波长标定值与实测值的符合程度，可以发现滤光片的质量是否符合要求。
荧光滤光片膜层厚度的均匀性是指膜厚随着基板表面位置变化而变化的情况。膜厚均匀性不好，膜系特性会遭到严重的破坏，所以薄膜厚度的均匀性如同薄膜厚度监控一样是一个重要的课题。
对于不同的薄膜往往有不同的均匀性要求。对单层MgF2减反射膜，若膜厚为λ0/4（λ0=520nm），则均匀性误差一般不得超过40nm，否则就会在同一基板上出现不同颜色。要求严格的是荧光滤光片，其均匀性误差所引起的整个滤光片表面上的峰值波长变化不能大于半宽度的0.3倍。对于一个直径不大于50mm、在可见光区半宽度不小于20nm的滤光片，这个要求不算太高，但是对于更大直径和更窄半宽度的滤光片问题就非常突出。对截止陡度要求很高的截止滤光片也是同样，均匀性不好将导致过渡性严重恶化。
